μPH-FIMを用いた単一表面原子領域の局所仕事関数分布の測定

書誌事項

タイトル別名
  • Measurement of the spatial variation in local work function of single surface atom site with μPH-FIM

説明

マイクロプローブホール電界イオン顕微鏡(μPH-FIM)を用いてW(112)テラス端の原子配列の一角に位置する単一原子領域に着目して電界イオン生成率(FIR)の2次元分布の精密測定を行った。その結果、FIR分布はテラス–ステップ方向に沿って明確な異方性を示しており、単一原子周辺に存在する電気双極子モーメントに起因する表面ポテンシャルの異方的な分布を定量的に捉えることに成功した

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680654845440
  • NII論文ID
    130005974626
  • DOI
    10.14886/sssj2008.37.0_130
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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