光電子分光によるオペランド計測
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- 高木 康多
- 分子科学研究所
書誌事項
- タイトル別名
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- Operando Measurement by Photoelectron Spectroscopy
説明
触媒反応下での硬X線光電子分光を測定するためにSPring-8のBL36XUに「雰囲気制御型硬X線光電子分光(NAP-HAXPES)装置」を立ち上げた。燃料電池型NAP-HAXPES測定セルを開発し、カーボン担持のPtナノ粒子電極の動作環境下での光電子分光測定を行った。Pt3dピークを測定し、電極電圧に依存して強度が変化するPtの酸化由来のピークを検出した。<br>
収録刊行物
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- 表面科学学術講演会要旨集
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表面科学学術講演会要旨集 35 (0), 315-, 2015
公益社団法人 日本表面真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680654981248
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- NII論文ID
- 130005489326
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
