表面錯体モデリングによる酸化物へのI－吸着の予測
抄録
酸化物へのヨウ素の吸着挙動の理解は表層環境におけるヨウ素の移行を理解する上で重要である。本研究では酸/塩基滴定法によってNaI電解質溶液中でのフェリハイドライトの表面電荷量を測定した。得られた表面電荷データは吸着反応式とその平衡定数を推定するために表面錯体モデリングによって解析された。解析によりヨウ化物イオンはフェリハイドライトに対し外圏錯体を形成することが示唆され、XANES測定の結果と調和した。また、Sprycha,1984とSprycha,1989により報告されるNaI電解質溶液中でのアナターゼとγ-アルミナの表面電荷データに関しても表面錯体モデリングによる解析を行った。フェリハイドライト、アナターゼ及びγ-アルミナへのヨウ化物イオン吸着の平衡定数の比較はBorn solvation理論に基づき様々な酸化鉱物への平衡定数の予測を可能にした。
収録刊行物
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- 日本地球化学会年会要旨集
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日本地球化学会年会要旨集 55 (0), 355-355, 2008
一般社団法人日本地球化学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680707607296
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- NII論文ID
- 130005053617
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可