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電子線マイクロプローブによる石英中のAl分析のためのシリカガラス標準試料
DOI
三好 直哉
大阪市大·院理
佐藤 久夫
産総研
山口 佳昭
信州大·理
益田 晴恵
大阪市大·理
書誌事項
タイトル別名
Synthetic silica glass for trace aluminum analysis in quartz by electron microprobe
収録刊行物
日本鉱物学会年会講演要旨集
日本鉱物学会年会講演要旨集 2002 (0), 78-78, 2002
一般社団法人 日本鉱物科学会
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キーワード
Al-doped silica glass
trace aluminum analysis of quartz
electron microprobe
wavelength shift
linearity of intensity
詳細情報
詳細情報について
CRID
1390282680708012672
NII論文ID
130004646647
DOI
10.14824/kobutsu.2002.0.78.0
データソース種別
JaLC
CiNii Articles
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