Development of scanning near-field optical microscope (SNOM) for mineralogical applications

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  • 走査近接場光学顕微鏡（SNOM）の製作と鉱物学への応用の可能性

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走査近接場光学顕微鏡(SNOM)は、従来の光学顕微鏡とは異なり、結像のためにレンズを使わない光学顕微鏡である。SNOMは近接場光と呼ばれる、エネルギーが試料表面に沿ってのみ伝播する光(エバネッセント波)を利用する光学顕微鏡で、理想的には20nmという超高分解能を得ることが可能である。SNOMがその他の微小構造解析装置(TEM・SEM・AFM etc)と異なるところは、試料表面の凹凸形状に加えて、試料表面からの蛍光・ラマン光を超高分解能で得られるところにある。例えば、Narita and Murotani(2002)では多結晶ルビーの粒間の蛍光スペクトル変動・圧力分布イメージングが報告されている。しかし、SNOMは装置由来の蛍光が強く、蛍光の弱い試料の測定には、測定法の改良が必要である。本研究では、SNOMの高分解能分光を地球科学試料に適用可能にし、多結晶間の歪み、微小な包有物の状態測定、物質の酸化状態の2次元イメージングなどを測定することを目標としている。

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  • CRID
    1390282680709606528
  • NII Article ID
    130004646728
  • DOI
    10.14824/kobutsu.2004.0.63.0
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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