発振回路法を用いた疲労き裂進展に伴うひずみ変化の計測

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• CRID

  1390282680823347968

• NII論文ID

  130007077570

• DOI

  10.1299/jsmekanto.2017.23.1217

• ISSN

  24242691

• Web Site

  https://www.jstage.jst.go.jp/article/jsmekanto/2017.23/0/2017.23_1217/_pdf

• 本文言語コード

  ja

• データソース種別

  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles