704 発振回路法を用いたひずみ計測による疲労損傷検出の可能性(計測・制御II)

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• CRID

  1390282680829648384

• NII論文ID

  110007115905

• DOI

  10.1299/jsmeyamanashi.2007.183

• ISSN

  24242705

• Web Site

  https://www.jstage.jst.go.jp/article/jsmeyamanashi/2007/0/2007_183/_pdf

• 本文言語コード

  ja

• データソース種別

  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles