21aBA-1 SmFeAs(O,F)薄膜のテラヘルツ伝導度測定

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• CRID

  1390282680930523520

• NII論文ID

  110009990102

• DOI

  10.11316/jpsgaiyo.70.1.0_1934

• ISSN

  21890803

• 本文言語コード

  ja

• データソース種別

  • JaLC
  • CiNii Articles