Electron density dependence of emission lines from highly charged iron ions.

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  • 鉄多価イオン発光線強度比の電子密度依存性

Abstract

<p>我々は、太陽観測において重要である鉄多価イオンのEUV発光線の分光研究を電子ビームイオントラップ装置(CoBIT)を用いて行ってきた。それらの研究で、Fe XV からの発光線強度比の電子密度依存性が、理論値と大きく違っていることが見出された。今回は電子密度がCoBITより4桁程度高い核融合プラズマ装置(LHD)を用い、高電子密度領域でのFe XV からの発光線強度比を測定した。当日は広範囲の電子密度依存性ついて報告する。</p>

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  • CRID
    1390282680935690624
  • NII Article ID
    130006246222
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_468
  • ISSN
    21890803
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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