Electron density dependence of emission lines from highly charged iron ions.
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- Sakaue H. A.
- NIFS
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- Nakamura N.
- ILS/UEC
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- Kato D.
- NIFS
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- Murakami I.
- NIFS
Bibliographic Information
- Other Title
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- 鉄多価イオン発光線強度比の電子密度依存性
Abstract
<p>我々は、太陽観測において重要である鉄多価イオンのEUV発光線の分光研究を電子ビームイオントラップ装置(CoBIT)を用いて行ってきた。それらの研究で、Fe XV からの発光線強度比の電子密度依存性が、理論値と大きく違っていることが見出された。今回は電子密度がCoBITより4桁程度高い核融合プラズマ装置(LHD)を用い、高電子密度領域でのFe XV からの発光線強度比を測定した。当日は広範囲の電子密度依存性ついて報告する。</p>
Journal
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- Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan
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Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan 71.2 (0), 468-468, 2016
The Physical Society of Japan
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680935690624
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- NII Article ID
- 130006246222
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- ISSN
- 21890803
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed