X線発光分光法による強相関4f電子系YbCu<sub>2</sub>Si<sub>2</sub>の電子構造の決定

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タイトル別名
  • Determination of electronic structure in a strongly correlated electron system YbCu<sub>2</sub>Si<sub>2</sub> by X-ray emission spectroscopy

抄録

<p>YbCu2Si2は、Ybイオンが非整数原子価を示す重い電子系化合物である。本系は温度や圧力により価数が変化する。この価数変化いわゆる価数揺らぎの低温電子物性に果たす役割を明らかにする為に、Yb-L3端領域でX線発光分光測定を行った。さらにバンド構造を考慮した新しい理論解析を行い、本系の電子構造パラメータを抽出した。</p>

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680935815808
  • NII論文ID
    130006244745
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_2116
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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