点接合アンドレーフ反射法を用いたNb-Ce重い電子物質の微分伝導度測定

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • Differential conductance measurements in Nb-Ce compound using point contact Andreev reflection

抄録

<p>超伝導体/常磁性体界面ではアンドレーフ反射により、超伝導ギャップの内側において微分伝導度が外側の2倍になることが観測される。しかしながら、重い電子系超伝導体を使うとフェルミ速度のミスマッチなどから上記の現象が抑制される。今回はCe重い電子物質とs波超伝導体（Nb）界面での微分伝導度測定を行い、通常の金属との違いの観測を目指した。</p>

収録刊行物

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680935951360
  • NII論文ID
    130006244784
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_2082
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

問題の指摘

ページトップへ