19pPSA-47 XSTM/STS測定による劈開Si-MISのゲート電圧印加時におけるバンドシフト評価
書誌事項
- タイトル別名
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- 19pPSA-47 Gate-voltage induced band-shift in a cleaved Si-MIS measured by XSTM/STS
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 71.1 (0), 2550-, 2016
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680936739072
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- NII論文ID
- 110010058489
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
