30pVE-2 ダイオードアレイを用いたMLCのアライメント確認方法の検討(30pVE X線・粒子線(粒子線の医学利用),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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書誌事項

タイトル別名
  • 30pVE-2 The assessment of QA Method using diode array measurement to MLC position error

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680946298752
  • NII論文ID
    110007373384
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.64.1.4.0_985_2
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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