Spectral decomposition of X-ray photoelectron spectrum in graphenes having atomic thicknesses with a replica exchange Monte Carlo method

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  • 原子層厚グラフェンのX線光電子スペクトルのレプリカ交換モンテカルロ法によるスペクトル分解

Abstract

<p>X線光電子分光解析では、ピーク位置やピーク強度から化学結合状態などの情報を得るために高精密なスペクトル分解が要求されている。我々はSiC基板上原子層厚グラフェンのC1s準位のX線光電子スペクトルをレプリカ交換モンテカルロ法を用いて解析を行った。発表では、解析にて得られる各パラメータの確率分布推定及び、それらの平均値からスペクトルの再現を確認できたことを報告する。</p>

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  • CRID
    1390282681022625024
  • NII Article ID
    130006709400
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.72.1.0_1584
  • ISSN
    21890803
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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