書誌事項
- タイトル別名
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- Dating of active fault gouge using optical stimulated luminescence and thermoluminescence
- ヒカリ ルミネッセンス ト ネツ ルミネッセンス オ リヨウ シタ カツダンソウ ハサイタイ ノ ネンダイ ソクテイホウ
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説明
跡津川断層の断層ガウジから分離した石英を用いて,OSL法とUV-TL法を利用した断層年代測定を試みた.まず,300°Cでのアニール実験からOSLのFC(速成分)とTLのシグナル消失条件を検討したところ,OSLでは300°C,20秒で,UV-TL270°C領域では300°C,12~30秒で消失した.トラップ寿命(τ)の評価でも,同様な結果が得られた.LM-OSLから測定石英は速成分に卓越するF型とそうでないdim-F型に区分された.ドーズリカバリーテストからF型の線量復元能力が高いことが示され,これをOSL年代測定に用いた.80アリコットから得られた単純平均年代は0.2±0.2 kaであった.跡津川断層に起因する飛越地震の時代は1858年であり,OSL年代はこの年代と標準偏差誤差内で重なる.
収録刊行物
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- 地質学雑誌
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地質学雑誌 119 (11), 714-726, 2013-11-15
一般社団法人 日本地質学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282681217692800
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- NII論文ID
- 130004756732
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- NII書誌ID
- AN00141768
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BC2cXit1Sjsrw%3D
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- ISSN
- 13499963
- 00167630
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- NDL書誌ID
- 025052265
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN
- OpenAIRE
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可