書誌事項
- タイトル別名
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- MEASUREMENTS OF OVERALL WIENER SPECTRA IN A COMPUTED RADIOGRAPHY
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説明
画像処理の効果やディスプレイ部の影響を含んだCRの最終画像からオーバーオールWSを測定し, S/F系の一例としてHiscreen/RXHのWSと比較検討した.その結果, オーバーオールWSは, 主走査方向と副走査方向で異なり, 高空間周波数領域では副走査方向の値が高かった.また, 副走査方向では10cycles/mm付近に書き込みレーザービームに起因するピークがみられた.CR(ST)は, Hiscreen/RXHに比べて, 同一線量, 同一階調出力時には, 基本的にノイズ特性が優れている.しかし, IP入射線量をHiscreen/RXHの1/4まで下げたときや, 周波数強調の仕方によっては, 低空間周波数域でノイズ特性が劣下する.また, HRとSTの比較では, 高空間周波数域を除くと両者の吸収線量率とプリサンプリングMTFの相違からHRの方がWSの値が高い.また, HRとHiscreen/RXHの比較では, 低空間周波数域において, ほとんど有意な差がなかった.異なったサイズのIP使用にともなうノイズ特性への効果は, 2/3の縮小ではWSに大きな差がみられなかったが, 1/2まで縮小させると明らかにノイズ特性が改善した.
収録刊行物
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- 日本放射線技術学会雑誌
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日本放射線技術学会雑誌 47 (10), 1787-1794, 1991
公益社団法人 日本放射線技術学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282681352986112
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- NII論文ID
- 110003469524
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- ISSN
- 18814883
- 03694305
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- Crossref
- CiNii Articles
- OpenAIRE
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可