書誌事項
- タイトル別名
-
- STM and LEED Analysis of 6H-SiC(0001) Surface Reconstructions
この論文をさがす
抄録
We applied scanning tunneling microscopy (STM) and low-energy electron diffraction (LEED) to analyze the initial process of graphitization at 6H-SiC(000-1) surfaces. There appeared a (4×4) periodicity in the LEED pattern of the 6H-SiC(000-1) surface annealed at 1050oC. In the STM image, many protrusions with (4×4) periodicity were observed on the graphite formed on the 6H-SiC(000-1) surface.
収録刊行物
-
- 表面科学
-
表面科学 25 (8), 519-520, 2004
公益社団法人 日本表面科学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390282681433835520
-
- NII論文ID
- 10013444894
-
- NII書誌ID
- AN00334149
-
- COI
- 1:CAS:528:DC%2BD2cXpt1Ghtrs%3D
-
- ISSN
- 18814743
- 03885321
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- JaLC
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可