X線光電子分光分析によるセシウム化合物の化学シフト

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  • Chemical Shift of Cesium Compounds by X-ray Photoelectron Spectroscopy
  • Xセン コウデン コブン コウブンセキ ニ ヨル セシウム カゴウブツ ノ カガク シフト

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抄録

The chemical shift of the 3d5/2 line of several cesium compounds were measured under the same condition by X-ray photoelectron spectroscopy. With the Auger line (M4N45N45) , the figure of chemical state plot (Wager plot) of the cesium compounds was drawn. When many materials are developed for decontamination of radioactive substances, and the new materials will be evaluated for the future, the measured data are used for the confirmation of the binding state.

収録刊行物

  • 表面科学

    表面科学 34 (3), 131-134, 2013

    公益社団法人 日本表面科学会

被引用文献 (2)*注記

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参考文献 (13)*注記

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