走査型白色干渉計を用いた引張負荷下における微小構造体のひずみ分布測定

DOI Web Site Web Site 被引用文献2件 参考文献18件
  • 伊東 孝史
    熊本大学大学院自然科学研究科産業創造工学専攻
  • 峯 洋二
    熊本大学大学院自然科学研究科産業創造工学専攻
  • 大津 雅亮
    福井大学大学院工学研究科機械工学専攻
  • 高島 和希
    熊本大学大学院自然科学研究科産業創造工学専攻

書誌事項

タイトル別名
  • Strain Measurement of Micrometre-Sized Structures under Tensile Loading by Using Scanning White-Light Interferometry
  • ソウサガタ ハクショク カンショウケイ オ モチイタ ヒッパリ フカカ ニ オケル ビショウ コウゾウタイ ノ ヒズミ ブンプ ソクテイ

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抄録

  A scanning white-light interferometry (SWLI) technique was used to image the surface topography and measure the in-plane strain in micrometre-sized structures subjected to uniaxial tensile deformation. This technique was applied to observing the macro and local deformation behaviours in micrometre-sized Au specimens. Reproducible stress-strain curves were successfully obtained using SWLI during the intermittent tensile tests. The local strain distribution was also calculated from the movement of natural gauge marks that are characteristic of triangular elements. Combining this micro-tensile test with orientation imaging microscopy enables crystal plasticity of mesoscale structures to be revealed.<br>

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