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- KINOSHITA Kozo
- 広島大学 総合科学部
Bibliographic Information
- Other Title
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- VLSIのテストと高信頼性
- VLSI ノ テスト ト コウ シンライセイ
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Journal
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- Journal of The Society of Instrument and Control Engineers
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Journal of The Society of Instrument and Control Engineers 24 (4), 313-318, 1985
The Society of Instrument and Control Engineers
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282681493340928
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- NII Article ID
- 130003695476
- 40000956042
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- NII Book ID
- AN00072406
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- ISSN
- 18838170
- 04534662
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- NDL BIB ID
- 3027230
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL Search
- CiNii Articles