Ultrafast Electric Pulse Sampling Measurement Using a Scanning Force Optoelectronic Microscope (SFOEM)
-
- KASAHARA Yukio
- Agilent Technologies Japan, Ltd.
-
- MIZUHARA Akira
- Agilent Technologies Japan, Ltd.
Bibliographic Information
- Other Title
-
- 超高速電子計測 超高速光サンプリング計測 時間・空間分解能積を高めた計測技術 ＳＦＯＥＭ
- カイセツ チョウコウソク ヒカリ サンプリング ケイソク ジカン クウカン ブンカイノウ セキ オ タカメタ ケイソク ギジュツ SFOEM
Search this article
Journal
-
- Journal of The Society of Instrument and Control Engineers
-
Journal of The Society of Instrument and Control Engineers 41 (4), 262-268, 2002
The Society of Instrument and Control Engineers
- Tweet
Keywords
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1390282681494809856
-
- NII Article ID
- 10007951040
-
- NII Book ID
- AN00072406
-
- ISSN
- 18838170
- 04534662
-
- NDL BIB ID
- 6134616
-
- Text Lang
- ja
-
- Data Source
-
- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
