書誌事項
- タイトル別名
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- Application of electron back-scattering diffraction (EBSD) in Mineralogy.
- 解説・資料 最近の研究から 電子線後方散乱回折(EBSD)の鉱物学への応用
- カイセツ シリョウ サイキン ノ ケンキュウ カラ デンシセン コウホウ サンラン カイセツ EBSD ノ コウブツガク エ ノ オウヨウ
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抄録
Electron back-scattering diffraction (EBSD) is a unique tool to obtain crystallographic information from specimens in a scanning electron microscope (SEM). Crystalline phases, crystal orientation and the relationship between the crystal orientation and morphology of the specimens are readily determined by analyzing Kikuchi patterns with dedicated software. Several applications in mineralogy, where EBSD combined with SEM imaging is very useful and convenient, are described.
収録刊行物
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- 岩石鉱物科学
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岩石鉱物科学 31 (5), 275-282, 2002
一般社団法人 日本鉱物科学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282681501689984
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- NII論文ID
- 130000253734
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- NII書誌ID
- AA1146088X
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BD3sXlsFOhtQ%3D%3D
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- ISSN
- 13497979
- 1345630X
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- NDL書誌ID
- 6404754
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
