走査型イオン伝導顕微鏡による組織・細胞観察

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抄録

<p>走査型イオン伝導顕微鏡（Scanning Ion Conductance Microscopy: SICM）は、液中のサンプルの立体形状をナノスケールで、非侵襲かつ非標識で可視化することができるユニークな走査型プローブ顕微鏡である。また凹凸の大きい試料の解析にも対応できることから、組織レベルから細胞レベルまでの生物試料観察に適している。本発表では、SICMによる多様な生体組織の観察や、細胞の頂上膜表面にある細胞質突起のタイムラプス観察の結果を示す。</p>

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282752323120512
  • NII論文ID
    130007702662
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2019s.0_540
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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