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- 村田 英幸
- 北陸先端科学技術大学院大学 先端科学技術研究科
書誌事項
- タイトル別名
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- Degradation analysis of OLEDs by steady-state and time-resolved photoluminescence
- ユウキ ハッコウ デバイス ノ ジカン ブンカイ フォトルミネセンス オ モチイタ レッカ カイセキ
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抄録
<p>有機エレクトロルミネセンス(EL)において,高い発光効率と優れた耐久性の両立は,達成すべき最大の課題である.特に,有機ELディスプレイの市場が急速に拡大する中,耐久性向上の要求は高まる一方である.有機ELでさらなる耐久性の向上を実現するためには,劣化機構を正確に理解することが不可欠である.有機ELデバイスの劣化が起こる場所や原因はデバイス構造に強く依存するが,最終的に残る劣化原因は,発光層を構成する有機材料の劣化によると考えられる.ここでは,発光層の劣化を時間分解フォトルミネセンス(PL)分光法によって解析する技術について紹介したい.</p>
収録刊行物
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- 応用物理
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応用物理 88 (9), 604-607, 2019-09-10
公益社団法人 応用物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282752327966208
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- NII論文ID
- 130007709562
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- NII書誌ID
- AN00026679
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- ISSN
- 21882290
- 03698009
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- NDL書誌ID
- 029969612
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可