低損傷分析条件下で高分解能REELSスペクトルを取得するための分析条件の評価
書誌事項
- タイトル別名
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- Evaluation of practical analysis conditions to obtain REELS spectra with high energy resolution under little sample damage
説明
<p>AESを用いることで反射電子EELS測定が可能であることは以前から知られてきた。しかしTEMによるEELS測定ほど活発な議論がなされていないのが現状である。今回はAESを用いて得られたEELSスペクトルの,電子銃のエネルギー幅から求められる分解能,実試料測定における分光器の条件を検討した。また透過EELSのスペクトルや通常のオージェ分析と比較し、表面ダメージやそれに伴うスペクトルの変化を考察した。</p>
収録刊行物
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- 日本表面真空学会学術講演会要旨集
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日本表面真空学会学術講演会要旨集 2019 (0), 2Hp11-, 2019
公益社団法人 日本表面真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282752351820288
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- NII論文ID
- 130007737678
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- ISSN
- 24348589
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可