欠陥検出器の変遷（歴史）と最新技術

植田 清隆

doi:10.2524/jtappij.72.1139

欠陥検出器の変遷（歴史）と最新技術

DOI Web Site Web Site

植田清隆

オムロン株式会社 AWI 事業推進部

書誌事項

タイトル別名

Transition of Web Inspection System and State-of-the-art Technology
ケッカンケンシュツキノヘンセン(レキシ)トサイシンギジュツ

この論文をさがす

説明

欠陥検査装置（Web Inspection System）は，紙等のシート上に光を照射し,センサーで黒点や穴等の欠陥と地合（良品）との受光量を測り，その差をもって欠陥と判定するものである。光学，電子，メカ，制御，コンピューター，ソフトウエア等の様々な技術を組み合わせた高度な総合システムであり，光源，データ処理，欠陥判別・分類，検査方式において，センサー・データ処理・光源を用いて開発されてきた。しかし，欠陥は，生産設備，原料，外的要因（虫）など様々な原因で発生するため出荷品質の判定に利用する情報以外に生産ラインの状態を表す情報として有効活用できる。そこで，最新の画像認識技術（深層学習）を利用した取り組みを，欠陥検出装置の変遷とあわせて述べる。