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- 石井 慶造
- 東北大学大学院工学研究科
書誌事項
- タイトル別名
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- PIXE and Its Applications
- 粒子線励起X線放出(PIXE)とその応用
- リュウシセンレイキXセン ホウシュツ PIXE ト ソノ オウヨウ
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抄録
高エネルギー荷電粒子が原子に衝突すると,原子の内殻電子が電離し,特性X線が発生する.この現象は,粒子線励起X線放出(Particle Induced X-ray Emission:PIXE)と呼ばれている.K殻電離の場合,電離過程は理論的に良く説明でき,その断面積はあるスケーリング則に従う.PIXEにおいて発生する特性X線の発生断面積は非常に大きいので,微量元素分析に応用でき,ナトリウムからウランまでの元素を同時にppbの感度で検出できる.ビームを走査すると,試料に含まれる元素の濃度分布を画像として得ることもできる.また,ビーム径がミクロンサイズのマイクロビームを用いると,細胞の内部の元素の分布を調べることができる.さらに,マイクロビームを金属ターゲットに照射すると,その特性X線の点線源が作成され,準単色X線のミクロンCTが可能となり,小動物の体内を生きたままで観察できる.
収録刊行物
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- 日本物理学会誌
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日本物理学会誌 66 (1), 12-19, 2011-01-05
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390283659840768128
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- NII論文ID
- 110008006966
- 20000650612
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- NII書誌ID
- AN00196952
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- ISSN
- 24238872
- 00290181
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- NDL書誌ID
- 10931155
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可