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- 谷山 明
- 住友金属工業株式会社総合技術研究所
書誌事項
- タイトル別名
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- High Resolution Backscattered Electron Image Observation of Fine Structure in Steel Materials with a Scanning Electron Microscope
- ソウサ デンシ ケンビキョウ オ モチイタ テッコウ ビサイ ソシキ ノ コウ ブンカイノウ ハンシャ デンシゾウ カンサツ
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説明
<p>最近,電界放射型電子銃を搭載したFE-SEMや極低加速電圧SEMなどの高性能SEMが広く利用されるようになり,鉄鋼材料解析においてもその活用が期待されているが,試料作製や観察手法に関しては未だに従来の技術を引き続き利用している場合が多く,装置の性能や特性を十分に活かした状態で利用しているとは言い難い.本稿では,最近の高性能SEMを鉄鋼材料観察に適用するための新しい試みとして取り組んでいる,高周波グロー放電によるアルゴンプラズマを用いた試料作製手法と,低出射角度で検出された反射電子像によるナノスケールサイズの微細組織の高分解能観察事例について紹介する.</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 44 (1), 16-19, 2009-03-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390283659843252736
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- NII論文ID
- 130007788856
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- NDL書誌ID
- 10265691
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可