X線マイクロトモグラフィー
書誌事項
- タイトル別名
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- X-ray Micro- and Nano-tomography Techniques and Their Applications
- Xセン マイクロトモグラフィー
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説明
<p>シンクロトロン放射光による高分解能X線トモグラフィーを念頭に,X線の吸収や屈折を利用するX線イメージングの基礎的な事項,三次元画像再構成の原理,画像のS/N比などについて詳述する.また,第三世代の大型放射光施設であるSPring-8で現在利用できるX線トモグラフィーのセットアップについて,検出器やシンチレーターの特性も含めて紹介する.これらに加え,筆者らの研究事例など,各種応用研究の現状についても簡潔に触れる.本稿では,高い空間分解能が応用研究の鍵となることに鑑み,空間分解能を本質的に規定するサンプリングの考え方をはじめ,結像光学のための光学素子,検出器系やその他の各種因子など,様々な観点から空間分解能を考えていく.これは,X線の上流から下流に至る様々な因子が複雑に重畳し,X線トモグラフィーで得られる画像の空間分解能が規定されるためである.</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 44 (3), 199-205, 2009-09-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390283659843261696
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- NII論文ID
- 130007788888
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- HANDLE
- 2324/1812249
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- NDL書誌ID
- 10467577
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- 本文言語コード
- ja
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- 資料種別
- journal article
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- データソース種別
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- JaLC
- IRDB
- NDLサーチ
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可