放射光/X線顕微鏡を用いた材料中のき裂のナノスケール観察

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1390283659856514560

• NII論文ID

  130007805857

• NII書誌ID

  AN1003250X

• DOI

  10.2493/jjspe.86.193

• ISSN

  1882675X

  09120289

• NDL書誌ID

  030303240

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/030303240

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I030303240

  https://www.jstage.jst.go.jp/article/jjspe/86/3/86_193/_pdf

• 本文言語コード

  ja

• データソース種別

  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles