書誌事項
- タイトル別名
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- Section SEM and Serial Section SEM
- セッペン SEMホウ ト レンゾク セッペン SEMホウ
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説明
<p>切片SEM法は,新たな走査電子顕微鏡(SEM)イメージング技法であり,スライドガラスに貼り付けた樹脂包埋組織切片から反射電子(BSE)像を観察する手法である.この手法では,高度なミクロトーム技術を必要とすることなく,透過電子顕微鏡のような超薄切片像を取得することができる.そこで本稿では,私たちが独自に開発した3つの切片SEM法,1)準超薄切片から超薄像をイメージする手法(準超薄切片SEM法),2)蛍光像と準超薄切片BSE像の相関顕微鏡観察法(CLEM法),3)凍結薄切法(徳安法)との組み合わせ法,について紹介する.さらに,新たな3Dイメージング技法である「連続切片SEM法」についても紹介し,切片のSEMイメージング技術の可能性について考察する.</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 55 (1), 18-22, 2020-04-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390285300156432128
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- NII論文ID
- 130007840822
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- NDL書誌ID
- 030455600
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- 本文言語コード
- ja
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- 資料種別
- journal article
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可