切片SEM法と連続切片SEM法

  • 久住 聡
    鹿児島大学大学院医歯学総合研究科形態科学分野
  • 甲賀 大輔
    旭川医科大学解剖学講座顕微解剖学分野
  • 柴田 昌宏
    鹿児島大学大学院医歯学総合研究科形態科学分野
  • 渡部 剛
    旭川医科大学解剖学講座顕微解剖学分野

書誌事項

タイトル別名
  • Section SEM and Serial Section SEM
  • セッペン SEMホウ ト レンゾク セッペン SEMホウ

この論文をさがす

説明

<p>切片SEM法は,新たな走査電子顕微鏡(SEM)イメージング技法であり,スライドガラスに貼り付けた樹脂包埋組織切片から反射電子(BSE)像を観察する手法である.この手法では,高度なミクロトーム技術を必要とすることなく,透過電子顕微鏡のような超薄切片像を取得することができる.そこで本稿では,私たちが独自に開発した3つの切片SEM法,1)準超薄切片から超薄像をイメージする手法(準超薄切片SEM法),2)蛍光像と準超薄切片BSE像の相関顕微鏡観察法(CLEM法),3)凍結薄切法(徳安法)との組み合わせ法,について紹介する.さらに,新たな3Dイメージング技法である「連続切片SEM法」についても紹介し,切片のSEMイメージング技術の可能性について考察する.</p>

収録刊行物

  • 顕微鏡

    顕微鏡 55 (1), 18-22, 2020-04-30

    公益社団法人 日本顕微鏡学会

関連プロジェクト

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

問題の指摘

ページトップへ