マイクロビームX線回折による赤色レーザダイオードのひずみ解析
書誌事項
- タイトル別名
-
- Analysis of Strain in Red Laser Diodes by Micro X-ray Diffraction
説明
レーザダイオードの発光特性には、チップに加わる応力による格子ひずみが影響を及ぼしていると考えられる。そこで、レーザダイオードチップに対してマイクロビームを用いたX線回折測定を行い、試料上の異なる位置で格子ひずみの差異を捉えることが可能なことを確認した。
収録刊行物
-
- SPring-8/SACLA利用研究成果集
-
SPring-8/SACLA利用研究成果集 8 (3), 532-536, 2020-10-29
公益財団法人 高輝度光科学研究センター
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390286981376108288
-
- NII論文ID
- 130007969738
-
- ISSN
- 21876886
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- JaLC
- CiNii Articles
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可