機械学習による外観検査への取り組み
説明
<p>ディープラーニングの発展により、画像認識技術は新たな発展の時期を迎えている。</p><p>本講演では、外観検査に応用可能な画像認識および機械学習の基礎的な説明を行った後、ディープラーニングを用いた最新技術について、事例とともに紹介する。</p>
収録刊行物
-
- エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
-
エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 33 (0), 11A1-01-, 2019
一般社団法人エレクトロニクス実装学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390290229666550784
-
- NII論文ID
- 130008121598
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- JaLC
- CiNii Articles
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可