X線回折法の高速検出器を用いた紙中の微量成分分析

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  • 武井 俊達
    王子ホールディングス株式会社 イノベーション推進本部 分析センター
  • 田原 江利子
    王子ホールディングス株式会社 イノベーション推進本部 分析センター

書誌事項

タイトル別名
  • X-ray Diffraction Analysis of a Trace Amount of Components in Papers Using the High Speed Detector
  • Xセン カイセツホウ ノ コウソク ケンシュツキ オ モチイタ カミ チュウ ノ ビリョウ セイブン ブンセキ

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抄録

<p>X線回折法は，結晶性物質の同定，構造解析に広く用いられている手法である。現在，一般的な検出器であるSC検出器を用い測定しているが，感度不足のため解析ができない問題があった。そこで比較的新しい一手法である高速検出器を検討した。本装置を更に有効活用するために高速検出器と従来のSC検出器の性能比較を行った。高速検出器は，半導体素子を多連装された検出素子として用いていることから測定時間の大幅短縮・高強度の回折X線データの収集に優れており，多試料の測定，微量試料の測定に適していることが知られている。</p><p>本報告では，市販機能紙及び配管中の赤色沈殿物中の微量物質を高速検出器で分析した事例を報告する。</p>

収録刊行物

  • 紙パ技協誌

    紙パ技協誌 75 (11), 992-995, 2021

    紙パルプ技術協会

参考文献 (1)*注記

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