北海道イネ系統の登熟期低温によって発生する胴切米の遺伝的比較解析

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タイトル別名
  • Genetic comparative analysis of Notched-berry grain caused by low temperature at the Grain-filling stage in Hokkaido rice lines.

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390290958082344704
  • NII論文ID
    130008151285
  • DOI
    10.20751/hdanwakai.62.0_40
  • ISSN
    24320307
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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