Structural analysis of twisted graphene by scanning probe microscope grown on template graphene

DOI

姚瑶

阪大院工
根岸良太

阪大院工
高城大輔

阪大院工
高村真琴

NTT物性研
谷保芳孝

NTT物性研
小林慶裕

阪大院工

収録刊行物

応用物理学会学術講演会講演予稿集

応用物理学会学術講演会講演予稿集 2019.2 (0), 3860-3860, 2019-09-04

公益社団法人応用物理学会

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CRID

1390292815285117824
DOI

10.11470/jsapmeeting.2019.2.0_3860
ISSN

24367613
本文言語コード

en
データソース種別
- JaLC

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