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新「国立国会図書館サーチ」公開によるCiNiiサービスへの影響について
Ga-Sn-O薄膜のメモリスタ特性の電極サイズ依存性
DOI
杉崎 澄生
龍谷大学 理工
倉崎 彩太
龍谷大学 理工
田中 遼
龍谷大学 理工
松田 時宜
龍谷大学 理工
木村 睦
龍谷大学 理工
書誌事項
タイトル別名
Dependence of Memristor Characteristic on Electrode Size of Ga-Sn-O Thin Film
収録刊行物
応用物理学会学術講演会講演予稿集
応用物理学会学術講演会講演予稿集 2018.2 (0), 3787-3787, 2018-09-05
公益社団法人 応用物理学会
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キーワード
19p-PB8-5
合同セッションK「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」
電子デバイス
アモルファス酸化物半導体
抵抗変化型メモリ
詳細情報
詳細情報について
CRID
1390293434339082880
DOI
10.11470/jsapmeeting.2018.2.0_3787
ISSN
24367613
本文言語コード
ja
データソース種別
JaLC
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