Temperature Dependence of Charge Excitations in the Electron-doped Superconducting Cuprate Nd<sub>1.82</sub>Ce<sub>0.18</sub>CuO<sub>4</sub>

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  • 電子ドープ型銅酸化物超伝導体 Nd<sub>1.82</sub>Ce<sub>0.18</sub>CuO<sub>4</sub> における電荷励起の温度依存性

Abstract

電子ドープ型銅酸化物超伝導体 Nd2-xCexCuO4（x = 0.18）について、銅Ｋ吸収端共鳴非弾性Ｘ線散乱（RIXS）を利用して電荷励起の温度依存性を調べた。銅 L3 吸収端 RIXS で x = 0.166 において報告された昇温による電荷励起強度の消失は、本研究で測定した運動量では観測されなかった。銅Ｋ吸収端、銅 L3 吸収端の RIXS では同じ電荷励起が観測できることを踏まえて、温度変化の有無についての原因を議論する。

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  • CRID
    1390295259244905344
  • DOI
    10.18957/rr.11.1.19
  • ISSN
    21876886
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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