素粒子ミュオンを用いた非破壊元素分析法の高度化 (二次元イメージングシステムと低バックグラウンド化)

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タイトル別名
  • Advanced non-destructive elemental analysis methods using muon beams

抄録

<p>素粒子ミュオンを用いた非破壊分析の更なる高度化を目指し、(1) 入射ミュオンの飛跡をトラックする三段のドリフトチェンバーを開発することで特性X線の二次元イメージ化、(2) Ge検出器でのX線のコンプトン散乱成分を反同時計数するコンプトンサプレッサーを導入し軽元素分析の高感度化、を行なった。当日は、昨年スイスのポール・シェラー研究所の大強度ミュオン連続ビームを用いて行なった実験結果について報告する。</p>

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390298355906098688
  • DOI
    10.14862/geochemproc.70.0_193
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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