屈折レンズを利用したマイクロビーム小角散乱測定の検証

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タイトル別名
  • Study of Micro-beam Small-angle Scattering Measurement using a Refractive Lens

抄録

高分子材料の局所領域における構造評価を実施するために、屈折レンズによるＸ線の微小化および小角Ｘ線散乱測定による評価を行った。従来、利用していたピンホールで光をコリメートするマイクロビームでは Φ 8 µm 程度のＸ線であったのに対し、3 x 2 µm 程度のＸ線を利用することができた。また、フォーカス距離が十分に長い屈折レンズを利用し、2 m のカメラ距離を確保することで、小角分解能を確保することができた。

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390299318852278528
  • DOI
    10.18957/rr.12.1.61
  • ISSN
    21876886
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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