異物分析のための赤外スペクトル解析

DOI
  • 新居田　恭弘
    PerkinElmer Japan 合同会社 アプリケーションリサーチラボ〒240－0005 横浜市保土ヶ谷区神戸町134

書誌事項

タイトル別名
  • Infrared spectral analysis for foreign material analysis

抄録

<p>フーリエ変換型赤外分光光度計（FT-IR）は製品中に混入または製品表面に付着した異物の組成分析に広く使用される。FT-IR は有機化合物と一部の無機化合物に関する化学的な情報を短時間で得られるという利点のため広く利用される。本稿では，初学者向けに解析の基礎となる赤外分光法の原理，定性的な分析の概要，データベース検索とスペクトルの読み方を概説する。次に異物分析で最も頻繁に検出される14 種類の高分子に関して，FT-IR で取得した高分子の赤外スペクトルを示し，それぞれのスペクトルにおける主要なピークの帰属とポリマーの分類方法を解説する。</p>

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390299705004036864
  • DOI
    10.11364/networkedpolymer.45.2_76
  • ISSN
    24342149
    24333786
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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