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- 楊 金峰
- 大阪大学産業科学研究所
書誌事項
- タイトル別名
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- Ultrafast Electron Microscopy Using Relativistic-Energy Femtosecond Electron Pulses
- ソウタイロンテキ フェムトビョウ デンシセン パルス ニ ヨル チョウコウソク デンシ ケンビキョウ ノ ケンキュウ
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抄録
<p>時間的に100フェムト秒,空間的にサブナノメートルの分解能を有する高速測定は,世界中の物質構造科学研究者が待望してやまない「夢」である.本稿では,加速器から生まれたフォトカソード高周波(RF)電子銃技術,これを用いたフェムト秒超短パルス電子ビームの発生,我々が世界に先駆けて推進している相対論的フェムト秒電子線パルスを用いた高速電子顕微鏡の開発現状を紹介する.最後に,相対論的エネルギー電子線パルスを用いた電子回折や透過イメージの測定について報告する.</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 50 (3), 156-159, 2015-12-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390564227299082112
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- NII論文ID
- 130007701779
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- NDL書誌ID
- 027077206
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可