連続切片SEM法とゴルジ装置の3D構造解析への応用

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  • 甲賀 大輔
    新潟大学大学院医歯学総合研究科顕微解剖学分野
  • 久住 聡
    新潟大学大学院医歯学総合研究科顕微解剖学分野
  • 牛木 辰男
    新潟大学大学院医歯学総合研究科顕微解剖学分野

書誌事項

タイトル別名
  • Serial Section Scanning Electron Microscopy and Its Application for the Morphological Analysis of the Golgi Apparatus
  • レンゾク セッペン SEMホウ ト ゴルジ ソウチ ノ 3D コウゾウ カイセキ エ ノ オウヨウ

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抄録

<p>連続切片SEM法は，超薄連続切片を硬い基板に載せ，その切片像を走査電子顕微鏡（SEM）で取得する技法である．この手法は，透過電子顕微鏡による連続切片法より容易であり，収束イオンビーム/SEM（FIB/SEM）のように高価で特殊な装置を用いずに，高精度な3D再構築像の作製が可能である．本稿では，この連続切片SEM法について，解説すると共に，この手法をゴルジ装置の3D構造解析に応用した例を紹介する．この手法は，ゴルジ装置のような空間的に複雑な形状を呈する細胞小器官の3D構造解析に最適である．連続切片SEM法を用いることで，ゴルジ装置やミトコンドリアなどの細胞小器官の3D構造解析の応用に期待がもてそうである．</p>

収録刊行物

  • 顕微鏡

    顕微鏡 49 (3), 171-175, 2014-12-30

    公益社団法人 日本顕微鏡学会

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