書誌事項
- タイトル別名
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- Serial Section Scanning Electron Microscopy and Its Application for the Morphological Analysis of the Golgi Apparatus
- レンゾク セッペン SEMホウ ト ゴルジ ソウチ ノ 3D コウゾウ カイセキ エ ノ オウヨウ
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抄録
<p>連続切片SEM法は,超薄連続切片を硬い基板に載せ,その切片像を走査電子顕微鏡(SEM)で取得する技法である.この手法は,透過電子顕微鏡による連続切片法より容易であり,収束イオンビーム/SEM(FIB/SEM)のように高価で特殊な装置を用いずに,高精度な3D再構築像の作製が可能である.本稿では,この連続切片SEM法について,解説すると共に,この手法をゴルジ装置の3D構造解析に応用した例を紹介する.この手法は,ゴルジ装置のような空間的に複雑な形状を呈する細胞小器官の3D構造解析に最適である.連続切片SEM法を用いることで,ゴルジ装置やミトコンドリアなどの細胞小器官の3D構造解析の応用に期待がもてそうである.</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 49 (3), 171-175, 2014-12-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390564227299171840
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- NII論文ID
- 130007701730
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- NDL書誌ID
- 026079408
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可