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- 木本 恒暢
- 京都大学大学院工学研究科電子工学専攻
書誌事項
- タイトル別名
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- SiC device process technology
- 基礎講座 基礎編 パワーエレクトロニクスの基礎(4)SiCプロセス技術
- キソ コウザ キソヘン パワーエレクトロニクス ノ キソ 4 SiC プロセス ギジュツ
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説明
<p>高耐圧・低損失パワーデバイス用に研究開発が進められているワイドギャップ半導体SiCのデバイス作製技術について紹介する.SiC半導体デバイスを作製するためには,従来の半導体材料で適用されてきたプロセス技術の延長だけでなく,SiC固有の問題を克服するために新たな技術が必要となる.本稿では,選択的な不純物ドーピングに不可欠なイオン注入,ドライエッチング,酸化膜形成および電極形成に関する基礎技術と課題について述べる.</p>
収録刊行物
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- 応用物理
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応用物理 74 (3), 371-375, 2005-03-10
公益社団法人 応用物理学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390564227308925312
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- NII論文ID
- 10014489791
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- NII書誌ID
- AN00026679
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- ISSN
- 21882290
- 03698009
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- NDL書誌ID
- 7269143
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可