書誌事項
- タイトル別名
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- Cause of Memory Effect Observed in Alkaline Secondary Batteries–AC Impedance Analysis
- ニッケル電極を正極に用いるアルカリ系二次電池に生じるメモリー効果の原因--交流インピーダンス法による解析
- ニッケル デンキョク オ セイキョク ニ モチイル アルカリケイ 2ジデンチ ニ ショウジル メモリー コウカ ノ ゲンイン コウリュウ インピーダンスホウ ニ ヨル カイセキ
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抄録
<p>The cause of the memory effect observed in alkaline-type rechargeable batteries was studied. It is found that γ-NiOOH initially forms at the collector side and it grows to the solution side as shallow charge-discharge cycling progresses. The charge transfer resistance of the charged-state Ni-electrode increases with shallow charge-discharge cycling. These results suggest that the memory effect is mainly caused by the formation of γ-NiOOH.</p>
収録刊行物
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- Electrochemistry
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Electrochemistry 68 (12), 977-983, 2000-12-05
公益社団法人 電気化学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390564227344653952
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- NII論文ID
- 10005749227
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- NII書誌ID
- AN00151637
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- ISSN
- 21862451
- 13443542
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- NDL書誌ID
- 5589231
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用可