Design for Testability in the Boundary-Scan Technology and the Latest Situation
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- Kameyama Shuichi
- Graduate School of Science and Engineering, Ehime University
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- Takahashi Hiroshi
- Graduate School of Science and Engineering, Ehime University
Bibliographic Information
- Other Title
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- バウンダリスキャン技術におけるテスト容易化設計とその最新状況
- バウンダリスキャン ギジュツ ニ オケル テスト ヨウイカ セッケイ ト ソノ サイシン ジョウキョウ
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Journal
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- Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging
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Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging 21 (5), 405-410, 2018-08-01
The Japan Institute of Electronics Packaging
