Study on Smoothing Power Consumption Method for Built-in Self Test of VLSI Using Weighted Random Pattern Generator

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  • 重み付きランダムパターン生成器を用いたVLSIの組込み自己テストにおける消費電力の平滑化手法に関する研究

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  • CRID
    1390564238055234816
  • NII Article ID
    130007546764
  • DOI
    10.11511/jacc.61.0_364
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles

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