書誌事項
- タイトル別名
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- Device Simulation for Stress Effects Considering Stress Concentration and Variations of Intrinsic Carrier Density in nMOSFETs
- デバイス ナイブ ノ オウリョク シュウチュウ ト シンセイ キャリア ノウド ヘンカ オ コウリョ シタ nMOSFET ノ デンキ トクセイ ヘンドウ デバイスシミュレーション
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収録刊行物
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- マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
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マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集 22 (0), 175-178, 2012
一般社団法人 エレクトロニクス実装学会